原子探针显微学

1 (p1): 第1章 概述
4 (p1-1): 参考文献
5 (p2): 第2章 场离子显微镜
5 (p2-1): 2.1 原理
5 (p2-1-1): 2.1.1 场致电离理论
7 (p2-1-2): 2.1.2 “看见”原子：场离子显微镜
10 (p2-1-3): 2.1.3 FIM的空间分辨率
12 (p2-2): 2.2 FIM的设备和技术
12 (p2-2-1): 2.2.1 FIM设备
13 (p2-2-2): 2.2.2 电子FIM和数字FIM
14 (p2-2-3): 2.2.3 层析FIM技术
15 (p2-3): 2.3 FIM图像的解释
15 (p2-3-1): 2.3.1 纯材料图像的解释
16 (p2-3-2): 2.3.2 合金图像的解释
16 (p2-3-3): 2.3.3 FIM的部分应用
19 (p2-3-4): 2.3.4 总结
19 (p2-4): 参考文献
22 (p3): 第3章 从场解吸显微镜到原子探针层析
22 (p3-1): 3.1 原理
22 (p3-1-1): 3.1.1 场蒸发理论
30 (p3-1-2): 3.1.2 逐个分析原子：原子探针层析
33 (p3-2): 3.2 APT的设备和技术
33 (p3-2-1): 3.2.1 实验设置
36 (p3-2-2): 3.2.2 场解吸显微镜
39 (p3-2-3): 3.2.3 高压脉冲技术
41 (p3-2-4): 3.2.4 激光脉冲技术
49 (p3-2-5): 3.2.5 能量补偿技术
50 (p3-3): 参考文献
56 (p4): 第4章 样品制备
56 (p4-1): 4.1 简介
56 (p4-1-1): 4.1.1 样品取样
58 (p4-1-2): 4.1.2 试样要求
58 (p4-2): 4.2 抛光方法
58 (p4-2-1): 4.2.1 电解抛光过程
62 (p4-2-2): 4.2.2 化学抛光
62 (p4-2-3): 4.2.3 安全
63 (p4-2-4): 4.2.4 优势和局限性
64 (p4-3): 4.3 宽离子束技术
65 (p4-4): 4.4 聚焦离子束技术
66 (p4-4-1): 4.4.1 切取法
69 (p4-4-2): 4.4.2 挖取法
76 (p4-4-3): 4.4.3 聚焦离子束制备样品的最终阶段
77 (p4-4-4): 4.4.4 减少离子损伤和造成假象的方法
80 (p4-5): 4.5 制备镀膜和薄膜的沉积方法
80 (p4-6): 4.6 制备有机材料的方法
81 (p4-6-1): 4.6.1 聚合物微针尖
81 (p4-6-2): 4.6.2 自组装单分子膜
82 (p4-6-3): 4.6.3 低温制备
83 (p4-7): 4.7 其他方法
83 (p4-7-1): 4.7.1 浸入法
83 (p4-7-2): 4.7.2 直接生长法
83 (p4-8): 4.8 与样品几何形状相关的问题
84 (p4-9): 4.9 选择最优样品制备方法指南
85 (p4-10): 参考文献
89 (p5): 第5章 场离子显微镜
90 (p5-1): 5.1 FIM操作步骤
91 (p5-2): 5.2 场离子显微镜的操作空间
91 (p5-2-1): 5.2.1 成像气体
93 (p5-2-2): 5.2.2 温度
93 (p5-2-3): 5.2.3 最佳成像场
94 (p5-2-4): 5.2.4 其他参数
96 (p5-3): 5.3 总结
96 (p5-4): 参考文献
98 (p6): 第6章 原子探针层析的实验方案
98 (p6-1): 6.1 样品对准
99 (p6-2): 6.2 质谱仪
100 (p6-2-1): 6.2.1 离子的探测
101 (p6-2-2): 6.2.2 质谱
102 (p6-2-3): 6.2.3 质谱的形成
104 (p6-2-4): 6.2.4 质量分辨率
105 (p6-2-5): 6.2.5 常见假象
107 (p6-2-6): 6.2.6 元素识别
110 (p6-2-7): 6.2.7 成分测量
110 (p6-2-8): 6.2.8 可探测性
111 (p6-3): 6.3 操作空间
111 (p6-3-1): 6.3.1 飞行路径
111 (p6-3-2): 6.3.2 脉冲分数和基体温度
113 (p6-3-3): 6.3.3 选择脉冲模式
114 (p6-3-4): 6.3.4 脉冲率
114 (p6-3-5): 6.3.5 检测率
115 (p6-4): 6.4 样品失效
117 (p6-5): 6.5 数据质量评价
117 (p6-5-1): 6.5.1 场解吸图
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