Основы сканирующей зондовой микроскопии
Миронов В.Л.
Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур - от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей.
Année:
2005
Editeur::
Техносфера
Langue:
russian
Pages:
140
ISBN 10:
5948360342
ISBN 13:
9785948360348
Collection:
Мир физики и техники
Fichier:
PDF, 18.80 MB
IPFS:
,
russian, 2005